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La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique permettant de visualiser la surface de structures massives, l’échantillon apparaissant en volume. C'est ainsi que la structure et l’évolution de gels, de mousses ou d’émulsions sont dévoilées, à moins que l'on ne préfère étudier les interactions entre les bactéries et leur support par exemple. Un microscope électronique à balayage utilise un faisceau d’électrons très fin qui balaie, point par point, la surface de l'échantillon à observer. Le principe du balayage consiste à parcourir la surface de l'échantillon par lignes successives et à transmettre le signal recueilli via un détecteur à un écran cathodique dont le balayage est exactement synchronisé avec celui du faisceau incident.

La microscopie électronique permet de descendre à l’échelle des organites cellulaires mais il n'est alors plus question de matériel vivant. Son principe ressemble à celui de la microscopie photonique, la différence reposant sur l’origine de la source d'illumination qui n’est plus le photon mais l’électron. L’utilisation de ces électrons par rapport aux photons permet d’améliorer la résolution⁽¹⁾, c'est à dire le pouvoir séparateur du microscope. Cette amélioration est due à l’utilisation de particules accélérées (électrons) de longueur d’onde associée plus courte que celle des photons ce qui permet d’augmenter le grandissement. Le pouvoir de résolution de l’électron est plus de 600 fois supérieur au photon. Comme grandissement on peut dire que dans un paysage, la microscopie photonique classique permet de voir la forêt, et la microscopie électronique les arbres et mieux leurs feuilles et les détails des feuilles.

Un petit historique : en 1929, le russe Ruska met au point le 1^er microscope électronique à transmission avec une résolution de 50 nm (actuellement pour un MET classique à 80 KV on admet une résolution de 0.3nm). En 1940, naissance du 1^ermicroscope électronique à balayage et plus récemment en 1980 mise au point du microscope à champ proche.

_{(1) Pouvoir de résolution: distance minimale séparant 2 points individualisables.}

Liste des équipements disponibles:

- MEB Hitachi SU5000 FEG Low Vacuum équipé de détecteurs SE, BSE et STEM

- Appareils de préparation.

Offres proposées:

-          Prestations : prise en charge des échantillons de la fixation à l’image

-          Formations : préparation et/ou utilisation du MEB

-          Collaboration : développement technologique